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アメテック

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アメテックの概要と特徴

アメテックは、連続して生産されるシート状の製品の表面検査やモニタリングのための製品に特化しています。1980年代に完全デジタル化された欠陥検査装置をリリースして以降、先進の検査ソリューションを提供しています。世界各地に拠点があり、グローバルなサポート体制を構築しています。

アメテックが提供する検査装置の利点

アメテックは、独自開発の検査プラットフォームを導入しており、欠陥検査装置だけにとどまらず、原因解析や生産工程のフィードバックなど品質安定と生産性向上のためのソリューションを提供。金属、紙パルプ、フィルム、不織布、ガラスなど幅広い素材に対応しており、多様な業界のニーズを満たします。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

アメテックの製品一覧

Smart View欠陥検査装置

Smart View欠陥検査装置
引用元:アメテック公式サイト
https://www.ameteksurfacevision.com/surfacevision-jp

オンラインのカメラと高輝度LEDによる照明による検査により高い精度で欠陥を検出、リアルタイムで検査結果を表示します。
独自のアルゴリズムによる検出と、大量のデータを瞬時に処理する高性能の画像処理機による欠陥の分類や判定により、安定した検査環境を提供します。

SmartAdvisorウェブモニタリングシステム

>SmartAdvisorウェブモニタリングシステム
引用元:アメテック公式サイト
https://www.ameteksurfacevision.com/surfacevision-jp

工程上に設置されたカメラが製品の状態を常時ビデオ録画することで、欠陥や異常の発生原因を調査可能にします。
複数のカメラの映像を画面上にマルチビューで表示して各工程の状況を監視できるほか、カメラに検査機能を付加すれば異常発生の予兆を捉えてすぐに対処できるようになります。

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

使用例

不織布

農業やアパレル、建築などさまざまな業界で活用されている不織布はさまざまなタイプが製造されており、それぞれの製法に適した欠陥検査に合わせてSmartViewシステムが導入されています。医療用であれば小さな異物や毛髪などを確実に検出、農業用であれば穴や傷など、用途に合わせたソリューションを提供します。

高機能フィルム

高機能フィルムは電子機器や自動車、建材など幅広く活用されているため、検出の対象となる欠陥のレベルも、数十ミクロンレベルの微細なものから、目視可能なピンホールまで様々です。複雑になる製造工程に合わせた検査が必要となり、SmartViewシステムは過去の経験を基に、正確で高品質な欠陥検査を実施可能にします。

まとめ

アメテックはシート状製品の表面検査やモニタリングに特化し、1980年代から完全デジタル化した検査装置を展開してきました。独自の検査プラットフォームにより、欠陥検出だけでなく原因解析や工程改善までカバーし、グローバルなサポート体制も整えています。

Smart ViewやSmartAdvisorといった製品群は、金属・紙・フィルム・不織布・ガラスなど幅広い素材に対応し、リアルタイム検査や異常予兆の把握を実現。安定した検査環境の提供を通じて、品質安定と生産性向上に大きく貢献しています。

当サイトでは検査装置選定で重要となる「検査対象別」におすすめしたい企業3選をまとめています。貴社求める導入効果を見極めた選択の参考としてください。

アメテック株式会社の会社情報

本社所在地 東京都港区芝大門1-1-30 芝NBFタワー3F
問合せ先 03-4400-2350
公式サイト
(製品ページ)
https://www.ameteksurfacevision.com/
(https://www.ameteksurfacevision.com/surfacevision-jp)
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微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。
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