メック

メックの概要と特徴

高精細ディスプレイに使われる光学フィルムや、半導体などの製造に不可欠な高性能フィルムの検査に幅広く使われる光学式表面検査装置を提供しています。さまざまな種類のシートやフィルムに対応できるようにカスタマイズ可能で、ハードとソフトをいずれも自社開発しています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

• 検査可能な対象
  樹脂フィルム、金属板、光学フィルム、機能性フィルム、基材フィルム、その他シート状製品など
• 検出可能な欠陥
  スジ、ムラ、キズ、異物、汚れ、凹凸、ピンホール、シワ、ダコン、コートムラ、ハジキなど（対象物により異なる）

メックが提供する検査装置の利点

目視では検出することが難しいスジ、ムラ、異物などの微細な欠陥も、独自の欠陥強調テクノロジーにより安定して検出可能。さまざまなサイズや厚さ、材質のシートやフィルムに対応しています。AIを活用した画像解析機能により、細分化した分類もでき、欠陥部分は対象物に直接マーキングすることで位置を正確に把握できます。

メックの製品一覧

LSC-6000/LSC-6000L

引用元：メック公式サイト
https://www.mec-ins.co.jp/products/lsc6000/

ロールtoロール方式で高速生産される連続シートやフィルムの欠陥部分を、ラインセンサカメラやLED照明により検出し、欠陥情報と画像を保存するシステムです。
広幅ラインにも対応。欠陥の安定検出などにより高いレベルで品質を管理します。

HSC-7000

引用元：メック公式サイト
https://www.mec-ins.co.jp/products/hsc7000/

高速生産される連続シートやフィルムの表面欠陥検査の処理を、すべてソフトウエアで行うシステムです。
2次元デジタルフィルタを標準で搭載しており、密集判定などの実装で高いパフォーマンスを発揮。対象に制限はあるものの、コンパクトに設置できるメリットもあります。

枚葉／カットシート検査装置 MLA-5000

引用元：メック公式サイト
https://www.mec-ins.co.jp/products/cutsheet/

偏光パネルやタッチパネル、アクリル板など枚葉やカットシートで生産される製品の検査を専門に行います。
平面の製品はもちろん、ロール状のものでも平面とみなせる製品も検査可能。リアルタイムの画像分類や寸法測定の機能も標準搭載しています。

そのほかの製品

• 半導体製造工程用フィルム検査装置MLA-5000…フィルムの外観検査と寸法測定をリアルタイムで

まとめ

メックは光学フィルムや半導体製造用フィルムの検査に広く用いられる光学式表面検査装置を提供し、ハード・ソフトともに自社開発する強みを持っています。樹脂や光学フィルム、金属板など幅広い対象に対応可能です。

独自の欠陥強調技術やAI画像解析により、目視では困難な微細なスジやムラも安定して検出。LSC-6000やHSC-7000、MLA-5000など多彩な装置を展開し、連続シートから枚葉製品まで幅広い検査ニーズに応えています。

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