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アヤハエンジニアリング

目次
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アヤハエンジニアリングの概要と特徴

アヤハエンジニアリングは、検査装置の開発、設計、製造から据え付け、メンテナンスまでを一貫して実施している会社です。フィルム検査やシート検査、金属箔検査など製品サイズや検出したい欠陥に合わせた、さまざまな検査装置を提案。品質精度の向上や生産効率アップに貢献しています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

アヤハエンジニアリングが提供する検査装置の利点

製品の微細な傷や異物、欠陥などをミクロン単位の精度で検出することができる上、高速の生産ラインにも対応可能なのがアヤハエンジニアリングの検査機器の利点です。顧客のニーズに合わせたシステムをカスタム設計できるほか、高性能の画像処理技術やAI技術など先端技術も活用して高度な検査を実現しています。

アヤハエンジニアリングの製品一覧

AIRIS ACEシリーズ

AIRIS ACEシリーズ
引用元:アヤハエンジニアリング公式サイト
https://ayahaeng.co.jp/product/defect/airis-ace/

高分解能の検出能力が特徴の、インライン検査用ハイエンドモデルです。
最大4系列、カメラ32台まで拡張可能なほか、1秒間に最大500枚の欠陥画像を取り込むことができ、微細多量の欠陥を検出したいという要求にも対応しています。
操作性も向上させたほか、カスタマイズにも対応しています。

FITS-3シリーズ

FITS-3シリーズ
引用元:アヤハエンジニアリング公式サイト
https://ayahaeng.co.jp/product/defect/fits/

標準型のモノクロ検査装置で、幅広いインライン検査から簡易的な検査まで幅広く利用できます。
カメラは最大4系列、16台まで拡張可能なほか、広範囲の欠陥判定処理と画像圧縮表示機能により、スジや薄汚れなど大きく淡い欠陥の検出が可能。
わかりやすく鮮明な欠陥画像表示と設定機能で、操作性もアップしています。

MICRO ACEシリーズ

MICRO ACEシリーズ
引用元:アヤハエンジニアリング公式サイト
https://ayahaeng.co.jp/product/defect/micro-ace/

生産抜き取り検査や先端素材の研究試作品の検査に活用可能なオフライン検査装置です。
上位モデルのOMI-ULは1.0μmからの超高分解能検査が可能で、微小な欠陥も検出可能。透過や反射など豊富な光学系の組み合わせと画像処理により、欠陥の種類を見分けることができます。
検査ステージのサイズ変更など各種カスタマイズも可能です。

そのほかの製品

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

光学フィルム・樹脂・保護フィルムなど
表面欠陥検査装置カスタマイズ事例を見る

まとめ

アヤハエンジニアリングは、開発から設計、製造、据え付け、メンテナンスまで一貫対応できる強みを持ち、フィルムやシート、金属箔など幅広い対象に合わせた検査装置を提供しています。品質精度の向上や生産効率アップに大きく貢献しています。

ミクロン単位での欠陥検出や高速生産ラインへの対応に加え、画像処理やAI技術を活用した先端的な検査が可能。AIRIS ACE、FITS-3、MICRO ACEシリーズなど、多彩な製品群でニーズに合わせたカスタマイズにも対応しています。

当サイトでは検査装置選定で重要となる「検査対象別」におすすめしたい企業3選をまとめています。貴社求める導入効果を見極めた選択の参考としてください。

株式会社アヤハエンジニアリング会社情報

本社所在地 滋賀県東近江市小田苅町2003
設立 1974年11月
問合せ先 0749-45-3150
公式サイト
(コーポレート公式)
https://ayahaeng.co.jp/
(https://ayahaeng.co.jp/product/defect/)
 
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微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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引用元:日立ハイテク公式HP
(https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/)
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。

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