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ジュッツジャパン

ジュッツジャパンの概要と特徴

株式会社ジュッツジャパンは、マシンビジョン技術を軸としたFA機器メーカーとして世界的に認められている「JUTZEグループ」の日本法人です。外観検査装置(AOI)の全世界累計販売台数は20,000台を突破。2007年のグループ本社設立以来、ハードウェアとソフトウェアの自社開発・自社製造にこだわり、高速・高精度・高品質な検査ソリューションを追求し続けています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

ジュッツジャパンが提供する検査装置の利点

ジュッツジャパンの強みは、「2D検査と新3D検査のコンビネーション」による高い検出能力と、生産ライン全体を見据えた連携機能です。カメラヘッドのXY軸リニアモーター駆動により、高速かつ精密な動作を実現。さらに、検査結果を一元管理する「ライン管理システム」や、過剰判定を素早く解決する「リペアターミナル」など、工数削減と生産効率向上に貢献するソフトウェア群も充実しています。

ジュッツジャパンの製品一覧

3D外観検査装置 Edge II

3D外観検査装置 Edge II
引用元:ジュッツジャパン公式サイト
http://www.jutze.co.jp/ps/inline.html

2D検査と3D検査を融合させた、基板製造プロセス向けのインライン自動外観検査装置です。
カメラヘッドにリニアモーター駆動を採用し、自動レール幅調整機能も搭載。部品の欠品やズレ、極性逆、異物などを高速で検出し、0.6mm~6.0mm厚の基板に対応します。

3Dはんだ印刷後検査装置 Mirage II

3Dはんだ印刷後検査装置 Mirage II
引用元:ジュッツジャパン公式サイト
http://www.jutze.co.jp/ps/inline.html

基板実装における「はんだ印刷」工程後の品質をチェックするインライン検査装置です。
はんだの過少・過多、ブリッジ、形状不良などを立体的に検査可能。XY軸リニアモーター駆動による高い繰り返し精度で、微細な印刷不良も見逃しません。

コーティング剤検査装置 Sonar II

コーティング剤検査装置 Sonar II
引用元:ジュッツジャパン公式サイト
http://www.jutze.co.jp/ps/inline.html

基板保護のためのコーティング剤塗布状態を検査する装置です。
塗布なし、はみ出し、飛散、気泡(ボイド)、膜厚異常などを検出。独自のXY軸カメラ駆動システムにより、複雑な塗布エリアも正確にスキャンし、品質を保証します。

そのほかの製品

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

光学フィルム・樹脂・保護フィルムなど
表面欠陥検査装置カスタマイズ事例を見る

まとめ

ジュッツジャパンは、世界20,000台以上の導入実績を誇るマシンビジョン技術のスペシャリストです。ハードウェアとソフトウェアを自社で一貫開発することで、高速・高精度な検査だけでなく、ライン全体のデータ管理やリペア工程の効率化までを含めたトータルソリューションを提供しています。

3D外観検査装置「Edge II」やコーティング検査機「Sonar II」など、基板実装工程のあらゆるフェーズに対応するラインナップを展開。不良品の流出を防ぐだけでなく、製造プロセスの改善提案に繋がるデータ活用を支援できる点が大きな強みです。

当サイトでは検査装置選定で重要となる「検査対象別」におすすめしたい企業3選をまとめています。貴社求める導入効果を見極めた選択の参考としてください。

株式会社ジュッツジャパンの会社情報

                               
本社所在地神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 かながわサイエンスパーク東棟410
設立2014年(日本法人)
問合せ先044-712-5509
公式サイト
(製品ページ)
http://www.jutze.co.jp
(http://www.jutze.co.jp/ps/inline.html)
 
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微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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引用元:日立ハイテク公式HP
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。

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