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株式会社安永

株式会社安永の概要と特徴

株式会社安永は、半導体ICパッケージ向けの外観検査装置で国内トップシェアの実績を持つ有力なメーカーです。長年にわたり培ってきたノウハウを生かし、製造業の課題解決に貢献しています。

この実績の背景には、光学環境の検討から独自のアルゴリズム開発までを、一貫して提案できる高い技術力があります。実際に、2Dや3Dの計測技術を活用し、他社にはない高度な検査システムを提供しています。

そのため、高い品質管理が求められる製造現場において、株式会社安永の装置は非常に頼りになる存在です。導入の際に細かな要望を反映できる点も、多くの企業から高く評価されています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

株式会社安永の製品一覧

ICパッケージ外観検査装置(テーピング対応)

本製品は、工程内や受入れ検査の際に発生する足曲がりや傷を、迅速かつ正確に検出できる装置です。高度な寸法検査や欠陥検査の機能を搭載しており、微細な破損も見逃すことなく的確に見つけ出します。

また、非常に厳格な品質管理が求められる、車載品質検査にも柔軟に対応できる点が大きな強みです。極めて高い精度での外観検査が可能になるため、最終製品の安全性と信頼性向上に大きく貢献します。

半導体ベアチップ外観検査装置

本製品は、半導体ベアチップの全6面を同時に高精度で検査できる高性能な専用装置です。チップの上面や下面だけでなく、確認が難しい側面も含めたすべての面を一度に精密検査できます。

さらに、トレイからトレイへ自動で直接収納する機構を採用し、極めて高いスループットを両立していることも特長です。これにより、厳しい検査の精度を一切落とすことなく、製造ラインの生産性を飛躍的に向上させます。

基板・シート部品の外観検査装置

本製品は、リードフレームやサブストレート基板などの、精密な外観検査に対応する汎用性の高いシステムです。ベースとなる優れた検出能力を生かしつつ、部品の形状やパターンに合わせた柔軟なアルゴリズム調整を行います。

加えて、高分解能モデルや大視野モデルなど、製造現場の多様なニーズに合わせた柔軟なカスタマイズ対応が可能です。顧客ごとの細かな要望や運用方法に応じた適切な仕様の装置をスムーズに導入できます。

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

まとめ

株式会社安永の外観検査装置を導入するメリットは、高度なアルゴリズムによって微細な欠陥を確実に見つけ出せることです。光学環境の提案から運用までを一貫して任せられるため、導入の際に大きな安心感を得られます。

特に、車載部品や半導体関連など、極めて厳格な品質基準を満たす必要がある企業に強くおすすめします。自社の課題や検査対象に合わせた専用のシステムを構築し、工場全体の品質保証レベルをさらに一段階引き上げましょう。

株式会社安永の会社情報

社名 株式会社安永
所在地 三重県伊賀市緑ケ丘中町3860
設立 1949年9月
公式サイト https://www.fine-yasunaga.co.jp/
 
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フィルム
ガラス
金属
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微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。

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