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ダックエンジニアリング

目次
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ダックエンジニアリングの概要と特徴

「画像処理技術で社会に貢献する」が合言葉。ダックエンジニアリングは、創業時から画像処理技術の研究開発と応用を積み重ね、目視検査の自動化に取り組んできました。人による品質検査を超える精度を実現する製品やサービスの提供を常に目指しており、主に工場の生産ラインで導入されています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

ダックエンジニアリングが提供する検査装置の利点

ダックエンジニアリングの検査装置は、ハードウェアとソフトウェアの処理により視覚情報をデジタル化します。生産ラインでの目視検査にカメラの眼も加えることで、高速・精細な品質検査を実現。不良品を見つけるだけでなく、独自開発のAI技術などと融合させることで、不良品を造らない「攻め」の品質管理を提案します。

ダックエンジニアリングの製品一覧

グラビア印刷検査装置 Trinityシリーズ

グラビア印刷検査装置 Trinityシリーズ
引用元:ダックエンジニアリング公式サイト
https://www.dac-eng.co.jp/products/gravure_std/

プラスチックフィルムなどを使う軟包装業界向けグラビア印刷物の検査装置。
「ドクター筋」と呼ばれる特有の淡い線状の痕跡やキズも検出可能です。
微細な文字の欠けや汚れなども全面・全数検査でき、製品全体を一定の水準で検査できるほか、検査範囲内で複数の検査レベルを設定することも可能です。

グラビア印刷検査装置 Crossoverシリーズ

グラビア印刷検査装置 Crossoverシリーズ
引用元:ダックエンジニアリング公式サイト
https://www.dac-eng.co.jp/products/gravure_lmt/

従来の検査装置の高い性能は維持したまま、使いやすく、リーズナブルな価格設定となったことが特徴のグラビア印刷物検査装置で、主に軟包装業界向けです。コントローラーがなくシンプルな操作で動作し、素早い自動設定を実現しています。また、グラビア印刷機特有の欠陥をターゲットにした専用回路や、強力な補正機能も特徴です。

オンライン枚葉検査装置

オンライン枚葉検査装置
引用元:ダックエンジニアリング公式サイト
https://www.dac-eng.co.jp/products/online/

薄紙から厚紙まで各種の紙、段ボールや金属など、さまざまな素材への枚葉印刷物について、特許を取得している紙面安定化装置(SheetABS)などを活用し、1画素単位で高精細な検査を実施します。
低ノイズ・高コントラストの自社開発3CCDカメラによる鮮明な画像が、この検査を可能にしています。

そのほかの製品

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

まとめ

ダックエンジニアリングは、創業以来培ってきた画像処理技術を武器に、目視検査の自動化と高精度化を推進してきました。印刷物やフィルム、金属、段ボールなど多彩な素材に対応し、欠陥の早期発見から品質改善まで幅広い領域で活用されています。

グラビア印刷検査装置「Trinity」や「Crossover」、オンライン枚葉検査装置など、用途に応じた多彩な製品ラインナップを展開。さらにAI技術と融合することで、不良を見つけるだけでなく未然に防ぐ「攻めの品質管理」を提案できる点が強みです。

当サイトでは検査装置選定で重要となる「検査対象別」におすすめしたい企業3選をまとめています。貴社求める導入効果を見極めた選択の参考としてください。

ダックエンジニアリング株式会社の会社情報

本社所在地 京都府京都市南区上鳥羽大柳町1-5
設立 1974年7月
問合せ先 075-681-0133
公式サイト
(製品ページ)
https://www.dac-eng.co.jp/
(https://www.dac-eng.co.jp/products/)
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微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。
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