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ニレコ

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ニレコの概要と特徴

半導体や2次電池といった先端産業から鉄鋼や非鉄金属などの伝統産業まで、幅広い産業に不可欠な調整・制御機器の開発・製造をしているほか、各種の検査機器を取り扱っています。ニレコの表面欠陥検査装置は、高速・高精度の検査が可能で、フィルムや金属など幅広い素材に対応しています。

検査可能な対象と検出可能な欠陥

ニレコが提供する検査装置の利点

ニレコの表面欠陥検査装置は、素早い画像処理と高い分解能により、高速で精度の高い検査を可能にします。高機能フィルムや金属、紙などのさまざまな材質の物を検査対象にできるのも特徴。ハイエンドモデルのMujiken ExpressやスタンダードモデルのMujiken+などの種類があります。

ニレコの製品一覧

Mujiken Express

Mujiken Express
引用元:ニレコ公式サイト
https://www.nireco.jp/product/surface-inspection/plain-surface/mujiken-experess.html

画像処理エンジンの高速化・高容量化や、新たにGPUを搭載したことによる多彩な画像処理を実現。高速かつ高い分解能で、ハイレベルの検査パフォーマンスを実現しています。
高機能フィルムや金属、塗工フィルムや紙、不織布など幅広い検査対象に対応します。

Mujiken Express TypeS

Mujiken Express TypeS
引用元:ニレコ公式サイト
https://www.nireco.jp/product/surface-inspection/mujiken-express-types.html

高速で高い分解能によりハイレベルの検査パフォーマンスを発揮するMujiken Expressの特徴はそのままに、限定した機能をコンパクトな筐体に収めたローコストモデルです。
高機能フィルムや金属、塗工フィルムなど幅広い検査対象に対応。

Mujiken+

Mujiken+
引用元:ニレコ公式サイト
https://www.nireco.jp/product/surface-inspection/plain-surface/mujiken-plus.html

Mujikenシリーズのスタンダードモデルで、幅広いユーザーのニーズに合う検査性能と価格に加え、高速の製造ラインでも異物や欠陥を素早く検出する納得の検査能力も兼ね備えています。
薄汚れや横スジ検査回路も搭載しています。

そのほかの製品

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーを選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

まとめ

ニレコは半導体や二次電池、鉄鋼など幅広い産業に調整・制御機器や検査機器を提供しており、表面欠陥検査装置でも高速・高精度な検査を実現しています。高機能フィルムや金属、紙、不織布など多様な対象に対応可能です。

Mujiken ExpressシリーズはGPUを活用した多彩な画像処理でハイレベルな検査性能を発揮し、TypeSはコンパクト・ローコストながら高精度検査を実現。スタンダードモデルのMujiken+も高速ラインに対応し、薄汚れや横スジなど難しい欠陥の検出にも強みを持ちます。

当サイトでは検査装置選定で重要となる「検査対象別」におすすめしたい企業3選をまとめています。貴社求める導入効果を見極めた選択の参考としてください。

株式会社ニレコの会社情報

本社所在地 東京都八王子市石川町2951-4
設立 1950年11月
問合せ先 042-642-3111
公式サイト
(コーポレート公式)
https://www.nireco.jp/
(https://www.nireco.jp/product/surface-inspection)
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電極シート
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フィルム
ガラス
金属
OPCドラム
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フィルム
微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
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50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
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新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。
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