表面欠陥検査装置メーカーNavi~SurfEYE
表面欠陥検査装置メーカーNavi~SurfEYE » 表面欠陥検査とは? » 無地面検査について解説

無地面検査について解説

目次
目次

無地面検査とは

無地面検査とは、絵柄のないシート素材の表面に、傷、汚れ、異物付着、凹凸などの欠陥がないかを検査することです。 製品の品質を保証し、顧客満足度を高めるために重要な工程であり、様々な製造業において実施されています。近年では、AIや画像処理技術の発展により、検査の精度や速度が向上しています。

無地面検査の重要性とメリット

無地面の表面欠陥検査は、以下のような重要な役割を担っています。

品質保証

製品に欠陥がないことを確認することで、欠陥品を排除し高い品質を維持することができるため、顧客に安心して製品を使用してもらえます。

コスト削減

欠陥品の流出を防ぎ、製造コストや修理・交換コストを削減できます。

ブランドイメージ向上

高品質な製品を提供することで、企業のブランドイメージ向上に繋がり、競争力を強化できます。

顧客満足度向上

欠陥のない製品を提供することで、顧客満足度を高め、信頼関係を築くことができます。

安全性向上

製品によっては、表面の欠陥が安全性を損なう可能性があります。無地面検査は、製品の安全性を確保するためにも重要です。

無地面検査の対象物・分野(業界)

無地面検査は、様々な分野で幅広く活用されています。

対象物

金属、プラスチック、ガラス、セラミックス、紙、フィルム、繊維など、多様な素材が検査対象となります。

分野(業界)

自動車、電子部品、半導体、食品、医薬品、化粧品、航空宇宙など、様々な業界で導入されています。

検査方法

無地面検査には、目視による検査と、検査装置を用いた検査があります。

目視検査

肉眼で直接表面を観察し、欠陥の有無を判断します。

検査装置(表面欠陥検査装置)を用いた検査

カメラやセンサーなどを用いて表面を撮影し、画像処理技術によって欠陥を検出します。
近年ではAIを搭載した検査装置も登場し、より高精度な検査が可能になっています。

使用される代表的な表面欠陥検査装置の種類と機能

検査対象物や検査目的に合わせて適切な機種を選定する必要があります。

ラインスキャンカメラ方式

ライン状に光を照射し、その反射光をラインセンサーで読み取ることで、高速に検査できます。
主な機能として、高速検査、広範囲検査、連続検査などがあります。

エリアカメラ方式

面状に光を照射し、エリアセンサーで画像を取得することで、一度に広い範囲を検査できます。
主な機能として、広範囲検査、高解像度検査、形状測定機能などがあります。

顕微鏡方式

顕微鏡を用いて表面を拡大観察し、微小な欠陥を検出できます。
主な機能として、微小欠陥検出、高倍率観察、3D形状測定などの機能があります。

これらの検査装置は、検査対象物や検査目的に合わせて適切な機種を選定する必要があります。

表面欠陥検査装置は、目的の検査や対象物に対応しているかで選ぶのが大前提です。
基本性能やコストはもちろん、そのメーカーの装置を選ぶことで
どんなメリットが得られるのかを見極め、導入効果の最大化を図りましょう。

RECOMMENDED
検査対象で選ぶ
表面欠陥検査装置メーカー3選
無地面の表面欠陥検査なら
ナガセテクノエンジニアリング
ナガセテクノエンジニアリング公式HP
引用元:ナガセテクノエンジニアリング公式HP
(https://group.nagase.com/nte/scantec/)
二次電池
電極シート
FPD用
フィルム
ガラス
金属
OPCドラム
化学・機能性
フィルム
微細な欠陥への高分解能
利便性を追求した
カスタマイズに強み
  • 長年培ってきた光学技術と画像処理技術をはじめ、多彩なフィルター機能やシェーディング補正機能など独自の技術により、表面状態に関わらず微細な欠陥を高精度に検出できる。
  • 検査条件を 2 つ並列で処理できる装置に加え、顧客向けに画像処理ソフトの開発・カスタマイズに対応。手間を省いた効率的な検査ができる。
印刷面の表面欠陥検査なら
ダックエンジニアリング
ダックエンジニアリング公式HP
引用元:ダックエンジニアリング公式HP
(https://www.dac-eng.co.jp/)
枚葉・紙
段ボール
シール・
ラベル
軟包装・
ウェブ
製袋
グラビア
50年の画像検査実績で培った
印刷面検査に精通した
ラインアップ
  • 印刷面の種類ごとに特化した幅広い検査装置を揃えており、自社にピッタリな装置を導入できる。
  • 1975年から画像検査に取組み、培った経験から開発された使いやすい装置。
  • 箔デザインなど特殊な印刷面にも対応でき、印刷面の色・デザイン・文字が変わってもスムーズに運用できる。
ウェーハ表面欠陥検査なら
日立ハイテク
日立ハイテク公式HP
引用元:日立ハイテク公式HP
(https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/)
シリコン
ウェーハ
SiC
ウェーハ
ハード
ディスク
磁気ヘッド
新技術で微小欠陥を捉える
先端のシステムが揃う
  • 高出力・短波長レーザー、キラー欠陥(DOI)を捉える光学システム、散乱光データ処理アルゴリズム改善をしたシステムなどで、微小欠陥を検出。半導体の微細化に対し高いレベルの品質向上が図れる
  • 多様なアプローチの検査装置が揃い、目的のウェーハ検査が高確度で実現できる。
検査対象で選ぶ
表面欠陥検査装置
おすすめメーカー3選